Veröffentlichungsarchiv

QBIC Platinenprüfung

Einblick in eine veröffentlichte Anwendung oder einen Vortrag aus dem CRETEC-Archiv.

Archivinhalt: Angaben beziehen sich auf den ursprünglichen Veröffentlichungsstand. Aktuelle Ausführung, Leistungsumfang und Verfügbarkeit bitte mit CRETEC abstimmen.

QBIC Platinenprüfung Projektart: Electronics Datum 2021 Die Platinen im Kundenbereich sollen zuerst offline, später auch inline mittels Bildverarbeitung kontrolliert werden. Anforderungen: • Detektion fehlender Komponenten • Lokalisation von Falschpositionierung der Komponenten • Delamination von Komponenten (z.B. Lötung) • Detektion defekter Komponenten • Detektion teildefekter Komponenten • Detektion des Coating-Materials: Schutzlack vorhanden / teilweise vorhanden • Detektion von Fremdkörpern (Schmutz, Klebereste etc.) • Inline-Messung • Offline-Messung • Detektion von Rissen auf Platine und von Komponenten • kritisch, weil noch keine Musterteile vorhanden Es soll eine Zelle für die Prüfungen im Labor angeboten werden. Diese Zelle kann später 1:1 in die Produktion eingebunden werden, um die Prüfungen Inline durchzuführen.

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