QBIC baskılı devre kartı kontrolü

QBIC baskılı devre kartı kontrolü Project type: Elektronik Elektronik Tarih Tarihi 2021 Müşteri alanındaki tahtalar ilk olarak çevrimdışı olmalıdır, daha sonra da görüntü işleme yöntemiyle sıralanmalıdır. Kontrol edilir. Gereksinimler Gereksinimler • Kayıp bileşenlerin tespiti • bileşenlerin yanlış konumlarının yerelleştirilmesi • Bileşenlerin Delaminasyonu (örneğin.g. Soldering Hatalı bileşenlerin tespiti kısmen hatalı bileşenlerin tespiti • Kaplama malzemesinin Tespiti: koruyucu lacquer Present / kısmen mevcut Yabancı bedenlerin tespiti (kesin, kalıntılar vs.) • Inline ölçüm • Offline ölçüm • Kurul ve bileşenlerdeki çatlakların tespiti • kritik, çünkü henüz örnek parçaları yok Laboratuvarda test için bir hücre sunulacaktır. Bu hücre daha sonra 1:1 eklenebilir Üretim, testlerin doğrusal olmasını sağlamak için entegre edilir.