ארכיון פרסום
QBIC בדיקות פלטינה
ראה יישום שפורסם או הרצאה מתוך ארכיון CRETEC.
תוכן ארכיון: המידע מתייחס למצב הפרסום המקורי. הצבעה על ביצועים, טווח ביצועים וזמינות בבקשה CRETEC.
להגדיל את התמונה
להגדיל את התמונה
להגדיל את התמונה
להגדיל את התמונה
להגדיל את התמונה
להגדיל את התמונה
להגדיל את התמונהQBIC בדיקת פלטינה
סוג הפרויקט :
אלקטרוניקה
תאריך
2021
הקלטות בתחום הלקוחות צריכות להיות מקוונות תחילה, ולאחר מכן גם מקוונות באמצעות עיבוד תמונה.
להיות בשליטה.
דרישות :
• זיהוי של מרכיבים חסרים
• מיקום של מיקום שגוי של מרכיבים
• דלמינציה של מרכיבים (לדוגמה,
להרוג )
• זיהוי של מרכיבים פגומים
• זיהוי חלקי פגמים מרכיבים
• זיהוי חומר כיסוי: כיסוי מוגן נוכח / חלקית נוכח
• זיהוי גופים זרים (מזיקים, קמטים וכו ')
• מדידה Inline
• מדידה לא מקוונת
• זיהוי שריטות על פלטינה ומרכיבים
• חריג כי עדיין אין דוגמאות
יש להציע תאים לבדיקות במעבדה.
תא זה יכול להיות מאוחר יותר 1:1
ייצור משולב כדי לבצע את הבדיקות באינטרנט.
לשאול על יישום זה
פנייה לפרויקט ↗