CRETEC /

ארכיון פרסום

QBIC בדיקות פלטינה

ראה יישום שפורסם או הרצאה מתוך ארכיון CRETEC.

תוכן ארכיון: המידע מתייחס למצב הפרסום המקורי. הצבעה על ביצועים, טווח ביצועים וזמינות בבקשה CRETEC.

QBIC בדיקת פלטינה סוג הפרויקט : אלקטרוניקה תאריך 2021 הקלטות בתחום הלקוחות צריכות להיות מקוונות תחילה, ולאחר מכן גם מקוונות באמצעות עיבוד תמונה. להיות בשליטה. דרישות : • זיהוי של מרכיבים חסרים • מיקום של מיקום שגוי של מרכיבים • דלמינציה של מרכיבים (לדוגמה, להרוג ) • זיהוי של מרכיבים פגומים • זיהוי חלקי פגמים מרכיבים • זיהוי חומר כיסוי: כיסוי מוגן נוכח / חלקית נוכח • זיהוי גופים זרים (מזיקים, קמטים וכו ') • מדידה Inline • מדידה לא מקוונת • זיהוי שריטות על פלטינה ומרכיבים • חריג כי עדיין אין דוגמאות יש להציע תאים לבדיקות במעבדה. תא זה יכול להיות מאוחר יותר 1:1 ייצור משולב כדי לבצע את הבדיקות באינטרנט.
לשאול על יישום זה